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    有關(guān)絕緣材料的抗電壓擊穿強(qiáng)度的測試試驗(yàn)主要是靠什么原理?

    更新時(shí)間:2025-12-03      點(diǎn)擊次數(shù):179

    核心測試原理

    測試的本質(zhì)是模擬絕緣材料在極duan電場下的失效過程。基本原理可分為以下幾個(gè)步驟:

    1.  電場施加:將試樣置于兩個(gè)特定形狀的電極之間,電極與試樣良好接觸以消除氣隙。通過高壓發(fā)生器在電極上施加電壓,從而在試樣內(nèi)部建立均勻(理想情況下)或非均勻的電場。

    2.  電壓爬升:按照預(yù)設(shè)的升壓方式(如快速升壓、慢速升壓或步進(jìn)升壓)持續(xù)增加施加的電壓。

    3.  擊穿判定:當(dāng)電壓升高到某一臨界值時(shí),材料的絕緣性能發(fā)生不可逆的破壞,表現(xiàn)為:

          電流急劇增大(通常有設(shè)定閾值)。

          試樣上出現(xiàn)貫穿性的導(dǎo)電通道(可能伴隨電弧、聲響、灼燒痕跡)。

          電壓無法維持而驟降。

       此時(shí)的電壓值即為擊穿電壓。

    4.  強(qiáng)度計(jì)算:根據(jù)擊穿電壓和試樣的厚度,計(jì)算出材料的介電強(qiáng)度(即抗電壓擊穿強(qiáng)度)。

    關(guān)鍵專業(yè)術(shù)語詳解

    A. 核心性能術(shù)語

    1.  介電強(qiáng)度 / 電氣強(qiáng)度

          定義:材料能承受而不被擊穿的最da電場強(qiáng)度,是衡量絕緣材料抗擊穿能力的核心參數(shù)。

          計(jì)算公式:Eb = Ub / d

              Eb:介電強(qiáng)度,單位通常為 千伏每毫米(kV/mm) 或 伏每米(V/m)。

              Ub`:擊穿電壓,即發(fā)生擊穿時(shí)施加的電壓值,單位千伏(kV)或伏特(V)。

              d:試樣在兩電極間的厚度,單位毫米(mm)或米(m)。

          注意:它是一個(gè)強(qiáng)度概念,與試樣厚度有關(guān),但理論上應(yīng)是材料的本征屬性(需排除邊緣效應(yīng)等)。

    2.  擊穿電壓

          定義:在規(guī)定的試驗(yàn)條件下,導(dǎo)致試樣發(fā)生電氣擊穿所需的最di電壓。

    3.  相對電容率 / 介電常數(shù)

          定義:衡量電介質(zhì)材料在電場中儲存電荷能力的物理量。在交變電場中,它會影響到材料內(nèi)部的電場分布和熱效應(yīng),是分析擊穿機(jī)理的重要參數(shù)。

    B. 擊穿機(jī)理術(shù)語

    擊穿是復(fù)雜的物理過程,主要機(jī)理包括:

    1.  本征擊穿:在強(qiáng)電場下,材料內(nèi)部載流子(電子、離子)獲得足夠能量,通過碰撞電離產(chǎn)生“電子雪崩",導(dǎo)致電流急劇增大而擊穿。這反映了材料在純凈、均勻狀態(tài)下的極限絕緣能力。

    2.  熱擊穿:

          原理:材料在交變電場中因介質(zhì)損耗而產(chǎn)生熱量。若發(fā)熱速率大于散熱速率,材料溫度將持續(xù)升高,導(dǎo)致電阻下降、電流增大、發(fā)熱更劇,形成惡性循環(huán),最終使材料局部熔化、碳化或燒毀。

          影響因素:材料的損耗因數(shù)、導(dǎo)熱率、環(huán)境溫度、電壓頻率等。

    3.  電暈放電與局部放電擊穿:

          電暈放電:在不均勻電場中,電極曲率半徑較小的jian端附近,空氣或介質(zhì)局部電離,產(chǎn)生發(fā)光、發(fā)聲的放電現(xiàn)象。它會產(chǎn)生臭氧、氮氧化物,長期作用會腐蝕和劣化絕緣材料表面。

          局部放電:在材料內(nèi)部缺陷(如氣泡、雜質(zhì))或界面處發(fā)生的局部、非貫穿性放電。它是絕緣老化的先兆,持續(xù)的局部放電會逐漸侵蝕絕緣通道,最終導(dǎo)致全擊穿。

    4.  表面閃絡(luò)

          定義:擊穿未發(fā)生在材料內(nèi)部,而是沿著絕緣材料與空氣的界面發(fā)生放電,形成導(dǎo)電通道。

          影響因素:表面污染、濕度、爬電距離、電場分布等。測試中需通過電極設(shè)計(jì)和環(huán)境控制來盡量避免表面閃絡(luò),以測得真實(shí)的體擊穿強(qiáng)度。

    C. 測試相關(guān)術(shù)語

    1.  電極系統(tǒng):常用有平行板電極(適用于均勻電場)、圓柱電極、球電極等。電極邊緣需倒圓角以減少邊緣場強(qiáng)集中。標(biāo)準(zhǔn)(如IEC 60243, ASTM D149)對電極形狀、尺寸有嚴(yán)格規(guī)定。

    2.  升壓方式:

          短時(shí)法:以恒定速率連續(xù)升壓直至擊穿。

          步進(jìn)法:以固定步長逐級升壓,每級維持一定時(shí)間。

          慢速升壓法:升壓速率較慢,更易暴露熱擊穿等弱點(diǎn)。

    3.  試驗(yàn)環(huán)境:溫度、濕度對結(jié)果影響顯著,需在標(biāo)準(zhǔn)條件下進(jìn)行。常在絕緣油中進(jìn)行測試,以抑制表面閃絡(luò)和電暈放電,獲得更穩(wěn)定、可重復(fù)的體擊穿數(shù)據(jù)。

    4.  分散性:絕緣材料的擊穿數(shù)據(jù)通常具有較大的統(tǒng)計(jì)分散性,因此測試需要足夠多的樣本(如5-10個(gè)),并采用威布爾分布等統(tǒng)計(jì)方法處理數(shù)據(jù),以得到可靠的特征擊穿強(qiáng)度和閾值強(qiáng)度。



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